Taramalı elektron mikroskobu, mikro ve nano yapıların görüntülenmesine ve element analizi yapılmasına olanak verdiğinden hem mühendislik bilimleri hem de yaşam bilimleri çalışmalarının vazgeçilmez bir parçasıdır.
HITACHI SU5000 ALAN EMİSYONLU TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOPU (FE-SEM)
Genel Özellikler
- Çözünürlük: 1,20 nm (30kV) - 3,00 nm (1 kV)
- Büyütme: 30x - 1.500.000x
- Voltaj: 0.5 - 30 kV
- Detektörler:
- İkincil elektron Detektörü: Topolojik ve morfolojik bilgi, 3D görüntü
- 5 segmentli Backscattered Electron Detektörü: Atomik kompozisyon bilgisi ve Z kontrast
- Ultra Değişken Basınç Detektörü: Düşük basınçta, özellikle iletken olmayan numunelerin (polimer, seramik, vb.) görüntülenmesi.
- EDS Detektörü: Oxford X-MaxN 80 model, 80mm2 detektör alanına sahip EDS detektörü
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) Analizi Başvuru Formu için tıklayın
LEICA ACE 200 KAPLAMA CİHAZI
İletken olmayan örneklerin yüzeylerinin iletken hale getirilmesini sağlar. İletken metaller veya karbon ile homojen bir şekilde otomatik olarak kaplama yapılabilir.
LITH-SD800 ALTIN KAPLAMA CİHAZI
İletken olmayan ya da zayıf iletkenliğe sahip örneklerin yüzeylerini iletken hale getirilmesini sağlar. Örnek yüzeylerini Altın (Au) ile homojen bir şekilde kaplama yapılabilir.
LEICA CPD 300 KRİTİK NOKTA KURUTUCU
Organik, biyolojik, mikro elektro mekanik sistem (MEMS) bileşenleri vs. numunelerin, deformasyona yol açmadan dehidrate edilmesini sağlar.
LEICA EM UC7 ULTRAMİKROTOM
TEM, SEM, AFM ve LM analizleri için biyolojik ve endüstriyel numunelerden pürüzsüz ve ultra ince kesitlerin hazırlanmasını sağlar.